Circuitos integrados VLSI (Very Large Scale Integration) usando nanotecnologia demandam novos materiais, estruturas, metodologias de projeto e ferramentas de CAD (Computer Aided Design) para lidar com os problemas decorrentes do processo de fabricação, tais como a variabilidade. Alguns tipos de concepção são parcialmente robustos às variações de processo ou ambientais, quer sistemáticas ou aleatórias. Este projeto visa avaliar os tipos de projeto de circuitos integrados e os aspectos que podem ajudar a melhorar a qualidade de fabricação e de desempenho nas futuras gerações de dispositivos. Neste contexto, é fundamental avaliar como será o comportamento da tecnologia FinFET em tecnologias abaixo de 20nm. A tecnologia FinFET já está substituindo a tecnologia CMOS planar no processo de fabricação. Por este motivo, obter informações preditivas sobre o comportamento desta tecnologia no projeto de células é importante tanto para projetistas como para desenvolvedores de ferramentas de EDA (Electronic Design Automation). São objetivos principais deste projeto avaliar a robustez de circuitos em tecnologia FinFET, traçando um panorama preditivo de robustez da tecnologia FinFET. 

Neste projeto visa o desenvolvimento de sistemas de aquisição e processamento de imagens embarcados. O uso de hardware dedicado (FPGA) e microprocessadores possibilita uma ampla gama de possibilidades de otimização, através da execução em hardware (descrição de sistemas digitais) de algumas funcionalidades de processamento de imagens e de software para outras. Os objetivos desse trabalho são o de integrar essas soluções através de pequenos experimentos que incluem conversores de espaços de cores, filtros de limiar, detectores de bordas, entre outros.

Este projeto de pesquisa e inovação consiste no desenvolvimento de estratégias para aumentar a confiabilidade de circuitos integrados projetados em tecnologias nanométricas. Nele é demonstrado que o desenvolvimento no processo de fabricação de circuitos integrados tem gerado uma preocupação quanto a previsibilidade do comportamento, o consumo de potência e a confiabilidade dos novos circuitos. Os algoritmos estado-da-arte que auxiliam o projeto de circuitos integrados não tratam de forma eficiente estes novos desafios. Apesar de já utilizarem dados estatísticos no seu desenvolvimento, a pequena abrangência das análises e os novos desafios das tecnologias nanométricas ainda são grandes tópicos a serem investigados. Nesse projeto é proposta uma abordagem para avaliação mais eficiente destes efeitos em diferentes etapas do fluxo de projeto de circuitos integrados.

Neste projeto são consideradas alternativas de algoritmos e estruturas de dados para a geração de ferramentas de EDA para geração de layouts e distribuição das conexões dentro de um fluxo de síntese lógica e física de circuitos integrados. Especificamente, algoritmos de posicionamento e roteamento para a síntese física de circuitos integrados serão estudadas e analisadas quanto a roteabilidade dos circuitos, complexidade dos algoritmos, tempos de execução, restrições e especialmente, quanto a quantidade de metal necessária para realizar o roteamento dado o posicionamento final determinado pelos algoritmos de posicionamento. Técnicas de aprendizado de máquina vem demonstrando potencial para conduzir a soluções algorítmicas relevantes na área.